Simpósio Internacional de Confiabilidade 2007
 

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Fórum de Discussão
Engenharia da Confiabilidade

 

SIC 2007
Detalhes da Apresentação

 

P7-S2

Data - Hora - Sala
Quinta-Feira 10 de Maio - 11:00 às 12:00 - Sala 2

Título da Apresentação:

O fantástico crescimento da confiabilidade na eletrônica.

Descrição:

 

Através de uma rápida retrospectiva do desenvolvimento da eletrônica e de seus marcos históricos damos uma visão do crescimento da confiabilidade dos elementos básicos da eletrônica e de seus sistemas mais complexos.

Mostraremos que este crescimento da confiabilidade é essencial e sem o qual os avanços em funcionalidade, complexidade (Lei de Moore), custos unitários etc., seriam inócuos. Através de um exemplo numérico esta necessidade de aumento acelerado da confiabilidade fica demonstrada.

Compararemos a eletrônica com outras tecnologias para realçar esta evolução da confiabilidade.

Mostraremos os meios que são utilizados para obter a confiabilidade na eletrônica e daremos exemplos práticos de qualificações de circuitos integrados, placas montadas e produtos finais. Mostraremos a estruturação dos ensaios em função do nível de integração desde materiais, componentes, placas montadas e produtos finais.  Pela qualificação de um circuito integrado, usando o “Weibull-Design of Reliability Tests” , damos uma visão do grande esforço de ensaios necessário.

 

Autor(es)/ Empresa:

Wolfgang Biben
CenPRA - Brasil

 

 

 

O SIC 2007 é organizado pela  ReliaSoft   &  

System Reliability Center (SRC)

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